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DFT可测试性设计全流程讲解

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课程简介：

DFT设计课程——DFT可测试性设计全流程讲解

一个芯片的测试成本非常高，DFT设计在芯片测试的过程非常重要，本课程会给大家详细介绍DFT在设计流程中的位置及重要性，介绍基本故障类型、测试基本概念、通用的DFT方法介绍(SCAN原理及必要性、ATPG原理及必要性、EDT原理及必要性、BIST原理及必要性、BSD原理及必要性)等内容，让大家了解DFT可测试性设计的全流程。

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