打造IC人才
科技生态圈

DFT设计

自购买期一年有效

1342人报名

课程介绍:

DFT设计就业直通营培训课程结合行业新技术需求,增加芯片可测性,提高产品良品率,并减少产品投放市场时间及减少测试费用。课程囊括Liunx、数电、Verilog  HDL、MBIST、SCAN、BSD、ATPG、JTAG以及Tshell工具的使用。

课程升级:

四化一体
教学内容标准化,教学过程规范化,教学管理平台化,教学结果可量化、线上线下一体;

6+1服务模式
职业规划师、班主任、讲师、助教、项目经理、就业推荐 + 人力资源服务;

DFT设计(移动端)_01DFT设计(移动端)_02DFT设计(移动端)_03DFT设计(移动端)_04DFT设计(移动端)_05DFT设计(移动端)_06

DFT设计试听课

  • DFT设计

    试看

Linux

  • Linux基本概念及服务器登录

  • 目录操作

  • 文件压缩

  • 文件操作

  • vi编辑器1

  • vi编辑器2

  • 其他命令操作

  • Linux总结&答疑

数字电路基础

  • 数值和码值

  • 逻辑代数运算

  • 组合逻辑电路

  • 触发器

  • 时序逻辑电路

  • 总结&答疑

Verilog HDL 基础

  • Verilog 概述

  • Verilog 建模

  • Verilog 基本语法概念

  • Verilog 模块结构

  • Verilog 数据类型,常量,变量

  • Verilog 运算符

  • Verilog 赋值语句和块语句

  • Verilog 条件语句

  • Verilog 循环语句1

  • Verilog 循环语句2

  • Verilog always语句

  • Verilog always以及initial语句

  • Verilog 任务

  • Verilog函数

  • Verilog 基础语句总结

  • Verilog 系统任务

  • Verilog预编译处理语句

  • Verilog 语法总结1

  • Verilog 语法总结2

  • Verilog 语法总结3

  • Verilog 语法总结4

  • Verilog 语法总结5

  • Verilog 语法总结6

  • Verilog 语法总结7

  • Verilog 设计层次描述

  • Verilog 测试与验证

  • Verilog 同步状态机原理和设计1

  • Verilog 同步状态机原理和设计2

  • Verilog 可综合设计

  • 阻塞和非阻塞

  • Verilog总结和答疑

常用工具学习

  • 芯片开发环境_介绍

  • EDA_VCS_使用介绍

  • EDA_Verdi_使用介绍

MBIST概述

  • MBIST概述

  • MBIST流程

  • MBIST输入文件

  • MBIST输入文件

Memory建模

  • Memory建模语法

  • 定义模型

  • 建模示例

MBIST算法故障模型

  • 故障类型

  • 预定义算法

  • 自定义算法

BIST设计

  • 电路接口

  • 比较器和压缩器

  • 同步和异步存储器

  • 时钟的控制

  • 串行、并行测试

BIST诊断

  • 诊断接口

  • 诊断数据信息

  • 诊断流程

BIST自分析

  • 规则和限制

  • BISA示例

  • 行李额修复策略

  • BISA示例

控制器测试描述语言

  • CTDL语法和内容

  • CTDL文件示例

全速BIST

  • 在速和全速

  • 常规BIST读写操作

  • 读写流水操作

DFT概述

  • DFT策略

  • 自上而下的流程

SCAN和ATPG概述

  • 扫描设计(SCAN)概述

  • ATPG概述

  • 测试类型与故障模型

  • 故障控制和故障分类

常用术语和概念

  • 扫描术语

  • 扫描结构和过程文件

  • 模块打平和学习分析

  • 设计规则检查

可测试性主题

  • 同异步电路、可测性检查

  • 特殊可测性例子

内部扫描和扫描插入

  • Tessent Scan的介绍

  • 工具术语和概念

  • 测试结构插入前的准备

  • 多模式扫描链

  • 多模式扫描插入

  • 扫描插入流程

测试点插入

  • 什么是测试点

  • 测试点分析、路径及处理

自动测试生成的运行

  • TScan后的自行测试生成

  • 无TScan后的自行测试生成

测试向量的产生

  • 自动测试生成流程

  • 自动测试生成的过程

  • 好/坏仿真及随机仿真

  • 故障的设置

  • 自动测试生成的设置

  • 提高自动测试生成效率的方法

  • 低功耗的测试生成

静态漏电测试生成

  • 静态漏电测试生成

延迟测试的生成

  • 跳变故障故障生成与检测

  • 跳变故障检测

  • 跳变测试生成及时序要求

  • 跳变故障检测和多时钟

  • 时序例外导致的向量机覆盖率分析

  • 路径延迟测试生成

  • 指定名字捕获的在速测试

  • 多路径选择扫描示例

  • 内部时钟的控制

  • 不同故障模型的测试向量生成

便捷扫描电路的向量生成

  • 测试状态机

  • 测试过程文件

测试和验证

  • 宏测试

  • 测试向量的验证

多重处理技术

  • 多重处理技术

扫描向量重订目标

  • 扫描向量重定目标过程及内核向量生成

  • 扫描测试向量重定目标

  • 不带网表的扫描向量重定目标

  • 内部模式扫描向量重定目标

  • 外部模式扫描向量重定目标

测试向量格式化和时序化

  • 测试向量格式化和时序化

测试向量文件格式

  • 测试向量文件格式

MTFI文件

  • MTFI文件

灰盒介绍

  • 灰盒介绍

片上时钟控制

  • 片上时钟控制功能

  • 片上时钟控制设计

  • 片上时钟控制插入

  • 片上时钟控制示例

时钟门控

  • 基本时钟门控及嵌入

  • 级联时钟门控

状态稳定性分析

  • 状态稳定性数据显示及格式

  • 状态稳定性示例

边界扫描设计概论

  • 边界扫描介绍

  • 边界扫描结构

  • 边界扫描设计流程

边界扫描外部设计流程

  • external流程及输出模型

  • 设计问题及建议

  • 设计插入前准备

  • 边界扫描外面设计实现示例

边界扫描内部设计流程

  • internal流程、IO定义及示意

  • 增加边界扫描单元、控制及排布

  • 管教映射和链接

数据寄存器设计

  • 数据寄存器设计

边界扫描设计定制

  • 个人定制、工艺匹配,自定义指令

  • 设计规则检查,常用边扫单元介绍

  • 管教映射内容及示例

  • 内部扫描集成

输出测试及验证

  • 边界扫描输出文件介绍

  • 参数测试,测试向量,边界扫描语言描述

  • 设计插入,输出生成,设计验证

职业简介:

1.将DFT技术,常见的如Scan,Mbist,Boundary Scan技术,实现到设计中去。2.产生测试向量并验证测试向量。3.协助后端实现工程师完成test模式的时序收敛。4.协助测试工程师进行机台调试,debug 测试failure,提高芯片良率。

发展前景:

DFT技术一直再进步,所以需要DFT工程师不停的学习和探索新技术,DFT可以有许多创新思想在里面,比如说设计公司自用的好的DFT模块,设计时钟和复位网络,调高测试覆盖率,debug ATE测试结果。

资深的DFT工程师(5年经验)基本月薪就能拿到50-80K,当前IC设计行业正处于飞速发展的风口之下,DFT作为把控芯片质量的必要岗位,企业对DFT人才的需求可谓是日益旺盛。所以对于即将走入IC设计行业的科班人,亦或是其他专业有意转行IC的在职人,DFT将是你踏入IC行业一个不错的选择。

工作内容:

1.参与芯片DFT架构定义和设计。

2.完成DFT电路设计,包括Scan、Mbist、Bscan等。

3.协助后端团队处理DFT相关的时序分析和timing收敛工作。

4.使用EDA工具生成测试向量,并且进行仿真验证。

5.参与ATE,debug 测试failure。

所需技能:

1.需要对RTL设计熟悉;

2.熟悉整个设计的时钟复位网络

3.熟悉DFT 模式下的时序约束,协助设计实现工程师产生时序约束的sdc并完成DFT模式下的时序收敛。

4.精通tcl,perl,makefile等脚本语言。

5.具有Deigncompiler,Formality,Mentorteent等EDA工具使用经验

适用人群:

有意应聘DFT设计工程师的在职人员(本科及以上学历)

高等院校电子类在校研究生(含材料、工艺、物理、自动化等专业)