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DFT设计课程

自购买期一年有效

1354人报名

1205

课程简介：

DFT设计工程师，是随着测试应运而生的一个岗位，是IC行业的多面手。目前在芯片设计中都离不开DFT。通过企业级真实案例由浅入深、由易入难，让学员熟练掌握企业级DFT。

适合人群：

本课程适合本科及以上学历，电子类相关专业的人群学习（如：电子信息、微电子、计算机等）；

点击：你适合学DFT课程吗？

主讲老师：

星辰老师：20年以上数字ICDFT工程师，目前就任国内某研究所，担任专家级芯片DFT工程师.......

Jack老师：8年数字IC-DFT高级工程师，曾就职于国内一线大厂担任DFT研发高级工程师.......

实战派老师指路,不走弯路,助你学习核心技能，就业顺畅。更多老师>>

课程安排：

线上直播课+线下项目实训，上课时间为每周3次，每次2节课，24小时实时答疑；

点击：了解详细的上课安排>>

项目实操：

项目名称:MCU芯片

模块级项目：NPU

项目类型：商业级真实项目

项目工艺：65nm；

点击：获取实战项目详情>>

就业薪资（参考）：

平均薪资36W/年

初级工程师(20W-50W)、中级工程师(45W-80W)、高级工程师(60w-100w)

以往学员就业案例>>

课程大纲：

DFT

点击：获取完整课程大纲>>

就业介绍：

就业指导课+1对1就业服务+终身就业跟踪，随时提供就业服务。

1000余家企业招聘需求衔接、与大厂深度合作，定期为企业输送IC人才！

点击：定制专属就业计划>>

学员信息_01

0615

大家都在问：

DFT报名费用多少钱？

学习周期是多长时间？

零基础可以学会吗？

报名流程是怎么样的？



推荐免费课程

第一章 Linux基础

  • 1. LINUX基本知识及常用命令

  • 2. LINUX常用命令_演示1

  • 3. LINUX常用命令_演示2

  • 4. LINUX常用命令_演示3

第二章 数字电子技术基础

  • 1.数字信号描述方法

  • 2.数制

  • 3.二~十进制数之间的转换

  • 4.其他不同数制间的转换

  • 5.进制数的算数运算

  • 6.有符号数的表示1

  • 7.有符号数的表示2

  • 8.补码的加减运算

  • 9.二~十进制码

  • 10. 格雷码

  • 11. N.ASC码和奇偶检验码

  • 12. N.逻辑代数简介

  • 13. 基本逻辑运算

  • 14. 复合逻辑运算

  • 15. 三态输出门电路

  • 16. 集成逻辑门简介

  • 17. 逻辑代数的基本定律

  • 18. 逻辑代数的基本规则

  • 19. 逻辑函数及其表示方法

  • 20. 逻辑函数表达式的形式

  • 21. 逻辑函数的代数化简法

  • 22. 逻辑函数式的变换

  • 23. 逻辑函数的最小项表达式

  • 24. 逻辑函数的最大项表达式

  • 25. 卡诺图的引出

  • 26. 逻辑函数的卡诺图表示法

  • 27. 逻辑函数的卡诺图化简法

  • 28. 含无关项的逻辑函数化简

  • 29. 逻辑门的替代符号

  • 30. 组合逻辑电路的分析_1

  • 31. 组合逻辑电路的设计过程_1

  • 32. 组合逻辑电路的优化实现_1

  • 33. 组合逻辑电路中的竞争冒险

  • 34. 编码器

  • 35. 集成编码器的使用

  • 36. 二进制译码器

  • 37. 译码器的应用

  • 38. 二十进制译码器

  • 39. 七段显示译码器

  • 40. 数字显示电路

  • 41. 数据分配器

  • 42. 数据选择器

  • 43. 数据选择器的应用

  • 44. 数值比较器

  • 45. 多位数值比较器

  • 46. 一位加法器

  • 47. 多位数加法器

  • 48. 锁存器和触发器

  • 49. 基本SR锁存器

  • 50. 基本SR锁存器

  • 51. 门控SR锁存器

  • 52. 基本SR锁存器

  • 53. D锁存器的电路结构

  • 54. D锁存器的动态特性

  • 55. 主从D触发器

  • 56. 其他控制端的D触发器

  • 57. 其他控制端的D触发器

  • 58. 主从D触发器的动态特性

  • 59. 维持阻塞D触发器

  • 60. D触发器

  • 61. JK触发器

  • 62. T触发器和SR触发器

  • 63. 时序逻辑电路1

  • 64. 时序逻辑电路2

  • 65. 同步时序逻辑电路分析

  • 66. 异步时序电路分析

  • 67. 寄存器和移位寄存器

  • 68. 计数器简介

  • 69. 同步二进制计数器

  • 70. 集成计数器

  • 71. 其他计数器

  • 72. 逻辑门电路简介

  • 73. MOS管及其开关特性

  • 74. 基本CMOS逻辑门电路

  • 75. 其他CMOS门电路

第三章 Verilog

  • 1. verilog课程内容介绍

  • 2. HDL语言介绍

  • 3. Verilog语言的发展及特点

  • 4. 数字系统抽象层次

  • 5. 抽象级建模

  • 6. 设计方法及流程介绍

  • 7. verilog建模

  • 8. 模块概念介绍

  • 9. 仿真测试概念介绍

  • 10. 模块结构概念介绍

  • 11. 关键字&标识符

  • 12. 编码标准

  • 13. 数据类型_常量

  • 14. 数据类型_参数传递

  • 15. 数据类型_变量

  • 16. 算术运算符

  • 17. 符号分类&优先级

  • 18. 逻辑运算符

  • 19. 运算符示例讲解(1)

  • 20. 运算符示例讲解(2)

  • 21. 赋值语句&块语句介绍

  • 22. 阻塞赋值&非阻塞赋值

  • 23. 块语句示例

  • 24. if_else语句

  • 25. case语句

  • 26. 条件语句注意事项&示例

  • 27. for语句

  • 28. repeat语句

  • 29. while&forever语句

  • 30. always语句实现循环

  • 31. 结构语句_always（1）

  • 32. 结构语句_always（2）

  • 33. 结构语句_initial

  • 34. 任务和函数（1）

  • 35. 任务和函数（2）

  • 36. task&function的区别

  • 37. 系统任务（1）

  • 38. 系统任务（2）

  • 39. 编译预处理（1）

  • 40. 编译预处理（2）

  • 41. 编译预处理（3）

  • 42. 练习（1）

  • 43. 练习（2）

  • 44. 练习（3）

  • 45. 练习（4）

  • 46. 练习（5）

  • 47. 练习（6）

  • 48. 练习（7）

  • 49. 练习（8）

  • 50. 练习（9）

  • 51. 练习（10）

  • 52. 练习（11）

  • 53. 练习（12）

  • 54. 练习（13）

  • 55. 练习（14）

  • 56. 行为描述&混合描述

  • 57. 门级描述

  • 58. 测试与验证

  • 59. 状态机概念

  • 60. 状态机的分类&实现

  • 61. 状态机的实现&转移图

  • 62. 序列检测示例

  • 63. 阻塞与非阻塞（1）

  • 64. 阻塞与非阻塞（2）

  • 65. 可综合&不可综合语法举例

  • 66. 可综合设计举例

  • 67. Verilog小结

第四章 DFT概述

  • 1. DFT策略及流程

第八章 MBIST存储器内建自测

  • 1. memory introduction

  • 2. Memory Bist introduction

  • 3. Tessent MBIST Introduction

  • 4. Tessent MBIST Flow

  • 5. MBIST Implemention

  • 6.Memory Repair Implemention

  • 7.sharebus & mbist verfication &other topics

  • 8. 实验-11

第五章 可测性设计SCAN测试方法

  • 1. SCAN基础

  • 2.tessent scan flow

  • 3. 实验-1

  • 4. 可测性案例

  • 5. wrapper cell 解析

  • 6. 实验-2

  • 8.Test points

  • 9. test point lab

  • 10. SCAN控制逻辑

  • 11. 实验-3

  • 12. synopsys scan flow

  • 13. synopsys scan 设计流程

  • 14. Test Compression

  • 15. 实验-4

  • 16. ATPG 概述

  • 17. Tessent ATPG 配置

  • 18. Test Procedure file解析

  • 19. ATPG mode

  • 20. 实验-5

  • 21. Test coverage分析

  • 22. Low power ATPG

  • 23. Verifying test pattern

  • 24. 实验-6

  • 25. Graybox 概述

  • 26. chip level pattern retarget

  • 27. scan timing-1

  • 27.scan timing-2

  • 28. SCAN test总结

  • 29. 实验-7

第六章 BSD边界扫描测试技术

  • 9.边界扫描验证与测试

  • 1. BSD概述

  • 1. Boundary SCAN概述

  • 2. Boundary SCAN架构上

  • 3. Boundary SCAN架构下

  • 4. Boundary SCAN相关指令

  • 5. Boundary SCAN插入方法

  • 6. JTAG概述及协议标准

  • 7. BSDArchitect总览和实现流程

  • 8.集成已存在边扫的IP 边界扫描输出

  • 9.Tessent边界扫描流程

  • 10.Tessent边界扫描特殊topics

第九章 实训项目

  • 1. Boundary scan introduction

  • 2. BSDArchitect 概述

  • 3.BSD Integration and output files

  • 4.Boundary Scan Verification and Test

  • 5.Tessent boundary scan flow

  • 6.实验-8

  • 7.Tessent boundary scan other topics

  • 8.JTAG standard instroduction

  • 9.实验-9

第七章 设计思路及其他方法

  • 1. Project-1

  • 1.Flat flow-1

  • 2. project-2

  • 2.flatten dft flow-2

  • 3. project-3

  • 3.STA and sdc introduction

  • 4. project-4

  • 4.Function Vs DFT --FM check

  • 5. project-5

  • 5.实验-10

  • 6. project-6

  • 6.spyglass dft introduction

  • 7. project-7

  • 7.special dft topic

  • 8. project-8

  • 9. project-9

  • 10. project-10

  • 11. project-11

  • 12. project-12

  • 13. project-13

DFT技术一直再进步，所以需要DFT工程师不停的学习和探索新技术，DFT可以有许多创新思想在里面，比如说设计公司自用的好的DFT模块，设计时钟和复位网络，调高测试覆盖率，debug ATE测试结果。

资深的DFT工程师（5年经验）基本月薪就能拿到50-80K，当前IC设计行业正处于飞速发展的风口之下，DFT作为把控芯片质量的必要岗位，企业对DFT人才的需求可谓是日益旺盛。所以对于即将走入IC设计行业的科班人，亦或是其他专业有意转行IC的在职人，DFT将是你踏入IC行业一个不错的选择。

就业薪资（参考）：

平均薪资36W/年

初级工程师(20W-50W)、中级工程师(45W-80W)、高级工程师(60w-100w)

适用人群：

有意应聘DFT设计工程师的在职人员（本科及以上学历）；

电子类在校研究生（含材料、工艺、物理、自动化等专业）；

职业简介：

1.将DFT技术，常见的如Scan，Mbist，Boundary Scan技术，实现到设计中去

2.产生测试向量并验证测试向量

3.协助后端实现工程师完成test模式的时序收敛

4.协助测试工程师进行机台调试，debug 测试failure，提高芯片良率

工作内容：

1.参与芯片DFT架构定义和设计

2.完成DFT电路设计，包括Scan、Mbist、Bscan等

3.协助后端团队处理DFT相关的时序分析和timing收敛工作

4.使用EDA工具生成测试向量，并且进行仿真验证

5.参与ATE，debug 测试failure


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